詳細摘要： 產(chǎn)品描述：DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能。
產(chǎn)品型號：DEKTAK XT所在地：上海市更新時間：2026-02-27 在線留言鉑悅儀器（上海）有限公司
鉑悅儀器（上海）有限公司
詳細摘要： 產(chǎn)品描述：DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能。
產(chǎn)品型號：DEKTAK XT所在地：上海市更新時間：2026-02-27 在線留言
詳細摘要： 產(chǎn)品描述：Dektak XTL探針式輪廓儀系統(tǒng)可容納多大350mm*350mm的樣品
產(chǎn)品型號：Dektak XTL所在地：上海市更新時間：2026-02-27 在線留言
詳細摘要： 產(chǎn)品描述：薄膜厚度指的是基片表面和薄膜表面的距離，而實際上，薄膜的表面是不平整，不連續(xù)的，且薄膜內(nèi)部存在著針孔、微裂紋、纖維絲、雜質(zhì)、晶格缺陷和表面吸附分子等。
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